冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子元器件、儀器儀表和其他電工電子產(chǎn)品要經(jīng)受溫度迅速變化的能力，其所需的暴露時(shí)間，取決于試驗(yàn)樣品的性質(zhì)。冷熱沖擊試驗(yàn)箱工作原理是：高溫箱和低溫箱在準(zhǔn)備狀態(tài)可以設(shè)置較試驗(yàn)溫度更的溫度條件，低溫箱試驗(yàn)時(shí)，低溫箱門開(kāi)啟與測(cè)試箱組成試驗(yàn)工作空間，進(jìn)行低溫試驗(yàn)，轉(zhuǎn)換進(jìn)入高溫試驗(yàn)時(shí)，低溫箱門關(guān)閉，高溫箱們開(kāi)啟與測(cè)試箱組成新的試驗(yàn)工作空間，轉(zhuǎn)換的機(jī)械動(dòng)作在小于1s即可完成，溫度也可較快穩(wěn)定，在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中受試樣品始終不被移動(dòng)，也無(wú)須人工干預(yù)。

溫度變化試驗(yàn)分為三類: 

1.規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化試驗(yàn),轉(zhuǎn)換時(shí)間分為:2～3min,20～30s,<10s 

2.規(guī)定溫度變化速率的溫度變化試驗(yàn)，試驗(yàn)箱的溫度升降變化速率（不超過(guò)５min內(nèi)的平均值）應(yīng)為1± 0.2℃ /min, 3± 0.6℃ /min, 5± 1℃ /min  
3.兩液槽溫度快速變化試驗(yàn)，產(chǎn)生一種急劇的熱沖擊,適用于玻璃-金屬密封及類似的試驗(yàn)樣